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日本bunkoukeiki 高浓度测定分光光度计

描述：日本bunkoukeiki 高浓度测定分光光度计
台式光学光谱检测设备，专门面向高吸光度、低透过率试样开发。仪器优化内部光路结构，抑制腔体内部多重反射带来的测量干扰，采用近似平行光入射，降低设备自身产生的干涉影响。无需对样品做稀释处理，直接完成试样光谱测定，适合光学实验室开展薄膜、滤光元件、高浓度试样的光谱评价工作。

  • 产品型号：OD‑10
  • 厂商性质：代理商
  • 更新时间：2026-08-24
  • 访问量：25
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本bunkoukeiki 高浓度测定分光光度计

核心参数

  • 测量波长范围：350‑700nm 可见光区间

  • 最大可测光学浓度：OD10

  • 光路形式：近似平行光入射，抑制多重反射

  • 检测对象：光学薄膜、滤光片、遮光膜、高浓度液体试样

  • 分光器结构：设备专属光路配置，降低杂散光

  • 数据输出：光谱透过率、光学浓度数据输出

  • 通讯接口：可对接外部计算机完成光谱采集

  • 供电：AC 交流供电

  • 工作环境：室温稳定环境，避免强光直射，无震动干扰

日本bunkoukeiki 高浓度测定分光光度计

功能特点

  1. 针对高吸光度样品设计，可直接测试 OD10 级别试样，样品无需稀释处理

  2. 优化内部光路，有效抑制样品室内多重反射，减少测量结果偏差

  3. 近似平行光入射，降低仪器自身干涉效应，提升薄膜类样品测量可靠性

  4. 杂散光控制表现优异，适配遮光类滤光元件低透过率检测

  5. 可输出完整光谱曲线，获取全波段光学浓度、透过率数据

  6. 适配固体光学元件与液态试样，样品更换操作便捷

  7. 支持计算机控制采集，便于光谱数据存储、对比与归档

  8. 整机结构稳定，适合长时间连续测试，重复性表现良好

  9. 适配研发阶段样品评估，也可用于小批量试样品质比对

  10. 维护简单，光路部件便于检查清洁，保障长期测量稳定

适用场景

  1. 各类光学滤光片、遮光膜低透过率光谱性能检测

  2. 多层光学薄膜、镀膜元件光谱特性评价

  3. 高浓度液态试样直接光谱测定，省去稀释带来的误差

  4. 光学材料研发实验室，新材料光谱性能评估

  5. 光学元件来料检验，成品光谱指标核对

  6. 高校及科研院所光学相关实验测试工作

  7. 光电行业零部件光谱参数确认与比对

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