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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本lightest 可调角度干涉条纹检查灯
核心参数
产品型号:KNL‑35D / KNL‑55D
产品类型:干扰(干涉)条纹检查照明灯
光源类型:钠灯光源,配置电子镇流器
灯头角度调节:0‑90° 可调
照射距离:350‑600mm 可调
KNL‑35D 发光面:345×245mm;载物台 453×363mm
KNL‑55D 发光面:560×440mm;载物台 545×455mm
光源寿命:约 9000 小时
供电:交流供电
整机重量:KNL‑35D 约 12kg;KNL‑55D 约 18kg
工作环境:室内光学质检工位
日本lightest 可调角度干涉条纹检查灯
功能特点
特殊光谱输出,使平面工件干涉条纹清晰显现,识别细微形变。
灯头角度 0‑90 度自由调节,适配不同工件观察角度需求。
照射距离可调整,兼容多种尺寸平板样品检测。
电子镇流器,光线输出稳定,减少频闪,适合长时间目视作业。
自带实体载物平台,工件摆放稳定,检测操作便捷。
可检出干涉纹、气泡、灰尘、指纹、表面微小凹凸缺陷。
支持调光,根据样品状态调整光照强度。
整机结构稳固,适合产线质检工位持续使用。
大小两款发光面,可对应不同幅面的平板工件。10. 专为光学面板类工件开发,提升细微缺陷检出效率。
适用场景
LCD、TFT 液晶面板干涉条纹外观检测。
偏光板、彩色滤光片表面瑕疵检验。
光学薄膜、盖板玻璃平面形变与缺陷筛查。
平板光学元件气泡、异物、指纹目视检查。
光学零部件来料检验与成品品质判定。
研发实验室,样品平面度形变观察评价。
光电行业产线工位,批量工件外观质检。
平板类元器件表面间隙、形变辅助观测。
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