描述：日东精工 MCP-T710 表面电阻分析仪日东精工 Analytech MCP-T710（原三菱化学低电阻仪），四探针法，符合 JIS K7194 标准，可测表面电阻、体积电阻率，适配导电薄膜、导电塑料、硅片、导电涂层，触屏操作，数据稳定，半导体、材料研发质检常用。

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厂商性质：代理商
更新时间：2026-10-28
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日东精工 MCP-T710 表面电阻分析仪日东精工 MCP-T710 表面电阻分析仪

日东精工 Analytech MCP-T710（原三菱化学低电阻仪），四探针法，符合 JIS K7194 标准，可测表面电阻、体积电阻率，适配导电薄膜、导电塑料、硅片、导电涂层，触屏操作，数据稳定，半导体、材料研发质检常用。产品介绍产品细节图：实拍主机触控屏幕、探针接口、探针组件、机身铭牌、数据导出接口，探针放置区、屏幕操作界面清晰，可直观查看配套探针安装位置。产品性能：采用经典四探针测量原理，无需在样品上制作电极，搭配对应探针即可一键完成电阻率测试，同时支持表面电阻、体积电阻两种测量模式。设备内置标准校正系数，测量结果换算便捷，符合 JIS 行业测试标准，读数重复性好。彩色触控大屏，操作界面简洁，可存储多组样品数据，支持数据导出，方便实验室建立样品台账。适配 ITO 薄膜、导电胶、导电塑料、硅晶圆、导电涂料等各类低阻材料，是材料研发、来料检验、制程管控的常用设备，整机抗干扰能力强，减少环境静电带来的测量偏差。用材：主机壳体工程塑料，稳定不易形变；探针组件硬质合金，耐磨，接触稳定；内部精密测量电路，屏蔽抗干扰。参数表

项目	参数
型号	MCP-T710
测量原理	四探针法
测量项目	表面电阻、体积电阻率
适用标准	JIS K7194
适配样品	导电薄膜、硅片、导电塑料
操作方式	触控屏

型号：MCP-T710用途：半导体基材、ITO 薄膜、导电涂料、导电塑胶、硅晶圆电阻率检测。包装：防震铝合金箱，配套四探针、校准片、说明书、出厂校准证书。使用说明：将设备放置在防静电台面，接通电源，选用适配探针，用标准片校准后，将探针轻压在样品平整区域，读取数据；测试完成清洁探针，避免样品残留污染探针，定期用标准片校验。售后服务：探针耗材供应，校准指导，测量方案技术支持。

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