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外观分析设备

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FY-18N日本船越龙FUNATECH 表面瑕疵检查灯日本船越龙FUNATECH 表面瑕疵检查灯，采用特殊波长高亮度光源，可清晰显现工件表面划痕、污渍、粉尘、异物、凹凸缺陷，光照均匀、显色清晰，操作简单便携，广泛用于精密零件、光学面板、半导体、电子元器件的外观质检与工况点检。

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更新日期
2026-05-20

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FY-18L日本船越龙精密表面缺陷检测灯检查灯日本船越龙精密表面缺陷检测灯检查灯为日本 FUNATECH（船越龙）品牌精密表面检查灯，是日本原厂专为工业精密制程研发的专用目视质检光源设备。设备搭载专属优化绿光波段光学光源与高精度滤光系统，依靠人眼对特定光谱的高视觉敏感度，可清晰显现工件表面肉眼难以识别的微米级划痕、凹坑、异物、脏污、残胶、镀膜瑕疵等缺陷；搭配可自由调节的柔性万向灯臂，照射角度灵活可调，光源护眼低疲劳。

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更新日期
2026-05-14

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厂商性质
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142
FY-18N日本FUNATECH表面检查灯工业异物缺陷检测灯日本FUNATECH表面检查灯工业异物缺陷检测灯本产品为日本 FUNATECH（船越龙）品牌精密表面检查灯，是日本原厂专为工业精密制程研发的专用目视质检光源设备。设备搭载专属优化绿光波段光学光源与高精度滤光系统，依靠人眼对特定光谱的高视觉敏感度，可清晰显现工件表面肉眼难以识别的微米级划痕、凹坑、异物、脏污、残胶、镀膜瑕疵等缺陷；搭配可自由调节的柔性万向灯臂，照射角度灵活可调，光源护眼低疲劳，广泛

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更新日期
2026-04-22

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183
FY-100R日本FUNATECH船越龙绿光精密表面检查灯日本FUNATECH船越龙绿光精密表面检查灯本产品为日本 FUNATECH（船越龙）品牌精密表面检查灯，是日本原厂专为工业精密制程研发的专用目视质检光源设备。设备搭载专属优化绿光波段光学光源与高精度滤光系统，依靠人眼对特定光谱的高视觉敏感度，可清晰显现工件表面肉眼难以识别的微米级划痕、凹坑、异物、脏污、残胶、镀膜瑕疵等缺陷；搭配可自由调节的柔性万向灯臂，照射角度灵活可调，光源护眼低疲劳，广泛应用

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更新日期
2026-04-22

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185LE-BK/185LE-W日本SENA工业检修检查灯手持便携工作灯日本SENA工业检修检查灯手持便携工作灯日本 SENA (S-VANS) 185LE-BK / 185LE-W 是 Superbeam 系列的超高照度手持卤素检查灯，并非普通检修工作灯。其核心为 185LE-AL 轻量化手持版（BK = 黑色，W = 白色），专为电子、半导体行业的微米级表面缺陷检测设计。

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更新日期
2026-04-22

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厂商性质
代理商

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209

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