IG-410日本堀场HORIBA 双量程高光表面光泽检测仪
日本堀场HORIBA 双量程高光表面光泽检测仪
IG-410 是日本堀场(HORIBA)推出的超高光泽表面专用检测仪器,专为传统设备难以应对的镜面级高光表面测量设计。采用 60° 固定光学角与分体式探头结构,可精准捕捉金属抛光面、电镀层、光学元件等超高反表面的光泽数据。设备轻巧便携、无需暖机、一键校准,适配现场检测与生产线品质管控,广泛应用于汽车、电子、半导体、精密制造等领域。
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更新日期
2026-06-15 - 02
厂商性质
代理商 - 03
浏览量
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2026-06-08

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