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LA‑100IR日本近红外卤素光纤光源检测仪
日本近红外卤素光纤光源检测仪LA‑100IR 为直流点灯近红外卤素光纤光源，内置 IR80 滤光片，滤除可见光，只输出 800‑1100nm 近红外波段光谱；采用 12V‑100W 近红外反射型卤素灯，直流点灯消除工频频闪。光量 2‑100% 连续可调，支持本机旋钮调节，也支持 DC0‑5V 远程模拟控制；具备灯泡断线检测、过流、过热保护；标配光纤接口，用于红外成像、硅晶圆内部隐裂检测。
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更新日期
2026-09-09
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厂商性质
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YP‑150ID日本YAMADA山田半导体晶圆基板缺陷检查灯
日本YAMADA山田半导体晶圆基板缺陷检查灯YP‑150I 为宏观观察用高照度卤素光源装置，照射光斑 φ30mm，照射距离 140mm 位置照度可达 400000Lx 以上，用于半导体硅晶圆、液晶基板表面异物、划痕、研磨不均、雾度、滑移缺陷目视检查。采用冷镜光学结构，热辐射相比传统铝镜降低约 2/3；具备两档照度一键切换，高照度 / 低照度快速切换观察
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更新日期
2026-09-09
- 02
厂商性质
代理商
- 03
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37
EMT‑7300II日本Robotmation哈夫值HU蛋品质检测仪
日本Robotmation哈夫值HU蛋品质检测仪采用超声波测距、称重传感、RGB 光谱、光散射浊度检测多重传感技术，无需刺破蛋壳，单枚样品约 17 秒完成蛋重、蛋白高度、蛋黄颜色、哈夫 HU 值、蛋白浊度检测，自动输出 AA/A/B/C 蛋品等级。兼容鸡蛋、鸭蛋、鹌鹑蛋等多种禽蛋，内置热敏打印机，配备 USB 数据通讯接口，可存储导出上千组检测数据。原装日本进口，砝码、罗氏比色卡属于配套校准选件
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更新日期
2026-09-09
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35
检测器日本KETT RN‑700 谷粒判定器
检测器日本KETT RN‑700 谷粒判定器，采用 500 万像素 CMOS 图像传感器，依靠图像处理技术完成糙米、精米外观品质判定。单次可检测 800‑1200 粒，约 40 秒完成千粒检测；可识别整粒、未熟粒、着色粒、碎粒、胴裂粒等多种缺陷。支持平板联机查看单粒判定图像，CSV 导出数据；内置打印机，SD、USB 存储。选配白度检测模块，实现粒质 + 白度一体化评价
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更新日期
2026-09-08
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厂商性质
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37
Founderlab树脂颗粒薄膜系列检测设备
Founderlab树脂颗粒薄膜系列检测设备，专注高分子材料检测与小型工艺设备。产品线覆盖薄膜鱼眼检测仪、桌面式鱼眼检测仪、树脂颗粒杂质扫描仪、洁净度筛选机，同时配套实验室流延膜机、在线熔融指数仪、聚合物在线分析系统。可检测薄膜晶点鱼眼、树脂颗粒杂质、洁净度；兼顾离线实验室检测与产线在线品检，服务塑料、高分子新材料研发与品质管控。
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更新日期
2026-09-08
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