描述：日本大塚电子OTSUKA 光学式薄膜测量仪
主打便携与精准兼具的薄膜检测方案。采用光学非接触测量方式，不会损伤被测样品，机身轻巧易携带，可灵活穿梭于生产线、车间与实验室。设备操作简单，搭载智能分析功能，可完成单层及多层薄膜的厚度检测，测量结果直观呈现。整体稳定性出色，适配各类薄膜、涂层工件的日常巡检、来料检验与成品检测，是光学、半导体、精密涂装等行业常用的精密检测仪器。

产品型号：SM-100 系列
厂商性质：代理商
更新时间：2026-06-10
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本大塚电子OTSUKA 光学式薄膜测量仪

产品概述

本系列为日本大塚电子自研的便携式光学膜厚检测设备，依托成熟的光学检测技术打造，突破传统台式仪器的使用限制，将高精度测量能力整合至手持机型中。专为各类功能性薄膜、光学涂层、镀膜层检测设计，兼顾实验室精密分析与生产现场移动巡检两大使用场景。非接触式检测的特性，可完整保护薄膜与基材表面，适用于易划伤、高精密的工件检测，广泛应用在光电、半导体、印刷、精密加工等领域。

核心结构与设计

整机采用人体工学手持造型，体积小巧、重量轻盈，长时间手持作业也不易产生疲劳。主机与检测探头一体化设计，布线简洁，移动使用不受空间限制。外壳选用耐磨工业材质，可适应车间多粉尘、轻微振动的复杂工况。显示区域布局清晰，读数一目了然，按键分区合理，功能操作逻辑简单，新手也能快速上手使用。采用光学检测原理，全程不接触被测表面，从根本上避免刮伤、挤压薄膜等问题，保障样品完好。

日本大塚电子OTSUKA 光学式薄膜测量仪

核心功能特点

高精度光学检测：搭载专业光学检测模块，对各类薄膜、涂层实现精准测量，测量重复性好，数据稳定可靠，满足精密制程的管控要求。
多层薄膜分析：支持单层膜与多层复合薄膜的厚度解析，可区分不同材质膜层并分别测算厚度，适配复杂镀膜工艺检测需求。
智能运算与一键测量：内置专属分析算法，对准被测位置后一键启动即可完成检测，设备自动运算并输出结果，省去复杂手动计算步骤，大幅提升检测效率。
数据管理功能：具备数据存储能力，可留存多组检测数据，方便后期对比、追溯与品质统计，也可配合外设完成数据导出，形成完整检测报告。
宽泛适配性：可兼容多种基材与膜层材质，针对光学膜、树脂涂层、功能性镀膜、油墨层等不同类型薄膜均能稳定检测，适用范围广。
灵活供电设计：支持常规电池供电，续航能力充足，满足外勤多点巡检；也可搭配电源适配器固定使用，适配实验室长时间连续检测。

适用样品与场景

光学行业：光学镜片镀膜、滤光片、偏光片等光学薄膜厚度检测。
半导体行业：晶圆表面涂层、防护薄膜、光刻胶层等精密膜层巡检。
涂装加工：各类工件表面功能性涂层、装饰涂层厚度把控，管控涂装均匀性。
薄膜制品：塑料薄膜、复合膜、离型膜等成品与半成品厚度抽检。
现场巡检：生产线工位快速点检、来料入库检验、成品出厂检测、设备工艺调试。

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