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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本JAPANSENSOR 常温型红外放射率测试仪
常温无损测量：无需加热样品，在 10–40℃室温下即可测量，避免高温导致材料变性，适合高分子、薄膜等热敏材料。
高精度与宽范围：放射率测量范围覆盖 0.01–1.00，精度达 ±0.01，可精准分辨表面处理（如喷砂、阳极氧化）带来的微小差异。
宽波段适配性：2–22μm 宽红外波段，兼顾金属（8–14μm）、塑料（3–5μm）等不同材料的红外特征。
便携易操作：主机与探头分离式设计，探头小巧便携；数字显示直观，两键式操作，无需专业培训即可快速上手。
稳定耐用：探头防护等级达 IP54，具备抗电磁干扰能力，可适应核电、航天等严苛环境。
数据输出灵活：提供 0–0.1V（高精度）与 0–1V（宽范围）双模拟输出，可对接 PLC、数据采集卡及分析软件。
型号：TSS-5X-3
品牌：JAPANSENSOR（日本）
测量原理：恒温发射源红外辐射反射能量探测法
测量范围：放射率 ε=0.01–1.00
测量波长：2–22μm
测量精度：±0.01（满量程）
测量面积：φ15mm
测量距离：12mm
响应时间：0.1 秒（0–63%）
显示方式：数字显示（2 位小数）
输出信号：0–0.1V、0–1V 双量程
使用温度：10–40℃
探头防护：IP54
材料科学研发：测试金属、陶瓷、高分子、涂层等材料的放射率，优化表面处理工艺。
半导体与电子：晶圆、封装材料、散热涂层的热辐射特性检测。
航空航天：飞行器表面、隔热材料、热控涂层的发射率测量。
能源与冶金：高温设备隔热层、辐射加热元件、节能材料性能评估。
工业质检：生产线零部件表面处理一致性抽检，红外测温仪发射率参数校准。
TSS-5X-3 主机
测量探头（含连接线）
标准校正片（放射率 0.06、0.97）
便携铝合金箱
使用说明书
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