描述：日本大塚电子Otsuka 粒径分子量测量系统
ELSZ neo 是日本大塚电子推出 ELSZ 系列旗舰Zeta 电位、纳米粒径、分子量一体化综合测量系统，融合动态光散射、电泳光散射、静态光散射多重光学检测原理，一站式完成颗粒尺寸分布、表面电荷、聚合物分子量、粒子浓度、微流变等多维度表征。

基础核心规格

• 型号：ELSZ neo（Otsuka 大塚电子）

• 测量原理：动态光散射 DLS（粒径）、电泳光散射 ELS（Zeta 电位）、静态光散射（分子量 / 浓度）

• 粒径测量范围：0.6 nm ~ 10 μm

• 适用样品浓度：0.00001% ~ 40%

• Zeta 电位量程：-200 mV ~ +200 mV

• 温控区间：0 ~ 90℃，温控精度 0.1℃，支持梯度升温程序

• 光源：638nm 半导体激光，探测器：高灵敏度 APD 雪崩光电二极管

• 样品池选配：标准流动池、3μL 超微量池、高盐平板固体样品池

• 拓展功能（选配）：分子量测定、粒子浓度定量、微流变测试、凝胶网格解析、多角度粒径分析

• 样品用量：3μL（微量池）~ 1.5mL（标准池）

• 整机功率：250VA

• 配套软件：支持数据存储、曲线对比、多格式导出、多语言操作界面

产品核心优势

1. 高低浓度全覆盖，无需稀释简化前处理

   从稀分散液到 40% 高浓浆料直接进样，省去稀释步骤，避免人为操作改变原始体系分散状态，测试结果更贴合产品真实工况。

2. 高盐体系 + 固体平板双检测能力，应用范围更广

   同设备可完成液体颗粒、硅片陶瓷固体表面、生理高盐溶液三类测试，一台仪器覆盖粉体、生物、半导体多领域界面表征，降低设备采购投入。

3. 温度梯度程序，动态解析材料温变行为

   区别仅恒温测试的常规粒度仪，可连续升温追踪颗粒团聚、蛋白变性临界温度，为配方耐温稳定性优化提供完整动态数据支撑。

4. 3μL 超微量池，稀缺生物样品损耗极低

   珍贵蛋白、纳米药物载体仅需微量试样即可完成检测，大幅减少高价值生物试剂消耗，适配生物医药前沿微量试样研究。

5. 电渗流自动校正，电位数据重复性优异

   消除池体吸附、离子强度带来的系统误差，同一批次、不同批次样品检测数值偏差小，平行实验、工艺对比判定标准统一。

6. 模块化拓展，设备可随科研需求升级

   基础主机满足常规粒度电位测试，后期新增分子量、微流变等模块即可拓展研究方向，无需整机更换，长期使用投入更经济。

7. 一体式流动池，连续检测无需更换容器

   单次进样自动完成粒径、Zeta 电位两组测试，减少人工换池操作，批量样品检测效率大幅提升，降低人为操作带来的误差。

8. 高灵敏度光学系统，低浓度样品检测速度快

   APD 探测器捕捉微弱散射信号，低浓度纳米样品缩短单次检测时长，减少长时间静置造成的颗粒沉降、团聚，数据可信度更高。

适用场景

1. 生物医药与生物材料研发

   脂质体、纳米药物载体、蛋白抗体、多肽分散稳定性测试；生理盐水等高盐生物体系电位表征，温度梯度解析蛋白热变性行为，微量生物试样低损耗检测。

2. 无机粉体、陶瓷、新能源材料领域

   二氧化硅、氧化铝、钛白粉、碳纳米管等纳米粉体分散性评估；陶瓷浆料、燃料电池粉体高浓度下粒径与电荷调控，优化粉体烧结成型工艺。

3. 半导体精密制造行业

   CMP 抛光浆料颗粒分布与表面电荷检测；硅片、晶圆平板表面 Zeta 电位测试，分析磨料与基底吸附、异物粘附机制，优化清洗与研磨工艺。

4. 高分子、涂料、乳液化工

   乳胶漆、胶粘剂、乳胶、聚电解质乳液稳定性表征；不同 pH、盐浓度下聚合物表面电荷变化，通过微流变分析涂层成膜流变性能。

5. 凝胶、软物质与胶体基础科研

   水凝胶、高分子凝胶网格结构与内部扩散系数分析；微流变测试获取凝胶粘弹性参数，用于软物质界面、胶体聚集机理基础研究。

6. 日化、化妆品、食品胶体

   护肤乳液、防晒纳米颗粒、食品乳化体系粒径电位监测，筛选分散稳定配方，评估储存过程颗粒团聚趋势。

7. 高校材料、化工、生物专业实验室

   胶体与界面化学教学实验，新材料相变、分散机理课题研究，支持批量平行样品自动检测，数据可直接导出用于论文图表制作。

8. 第三方理化表征检测机构

   多行业客户样品一站式粒径、电位、分子量、稳定性检测，模块化功能可承接粉体、生物、高分子、半导体全品类表征委托测试。