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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本onosokki 微小物体振动测量系统
型号组成：LV‑0181 定位相机；LV‑0185 同轴照明单元
LV‑0181 相机：1/4 英寸 CMOS 彩色传感器，30 万像素以上，VGA (640×480)，帧频 30fps
LV‑0181 接口：USB2.0 mini‑B 接口，电脑端输出图像
LV‑0181 摄像视场：工作距离 100mm 时 10×7.5mm；搭配物镜可缩小至 2.1×1.6mm
LV‑0181 相机功能：曝光、增益、白平衡自动调节，图像保存
LV‑0185 光源：白色 LED 冷光源，同轴落射照明，亮度连续可调
LV‑0185 适配物镜：LV‑0150B (5 倍)、LV‑0151B (10 倍)、LV‑0152B (20 倍)
LV‑0185 线缆长度：1.5m，可配延长线缆
系统适配主机：小野测器 LV‑1800 激光多普勒振动计
工作环境：0‑40℃，无结露
标配配件：LV‑0181 相机模块、LV‑0185 照明主机、连接线缆、操作说明书
选配配件：各倍率物镜、延长线缆、设备校准证书
激光与相机共焦点光路，观测视场与激光测量焦点保持一致，直观确认激光光斑打在目标测点。
LV‑0185 同轴冷白光照明，针对微小构件、背光难观测部位补光，大幅提升成像清晰度。
电脑端实时输出画面，可直接截图保存测点图像，便于测试记录归档。
可搭配多倍率显微物镜，满足不同尺寸微小器件的对位观测。
LED 冷光源，不会产生热辐射，避免光源发热干扰微型试样振动状态。
曝光、增益自动调节，明暗差异大的样品也可以获得清晰成像。
作为测振仪专用选配组件，整机光路匹配，无需复杂调试即可投入使用。
针对 MEMS、微型零部件，解决微小测点激光定位困难的痛点。
MEMS、压电元件等微型器件，非接触振动测试时测点可视化定位。
半导体微型构件、芯片试样，激光测振前光斑对位确认。
高校科研实验室，微小结构动力学试验，同步观测样品与激光点位。
研发部门微型元器件振动特性评估，图像留存测点位置。
微型传感器、微型执行器样品振动性能检测。
物镜组合下微小区域振动扫描测试，辅助观测样品形貌。
精密零部件质量验证，微小部位振动信号采集的视觉辅助。
需要对微小物体开展激光多普勒测振，同时需要可视化定位测点的研发测试工况。
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