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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本近红外卤素光纤光源检测仪
日本近红外卤素光纤光源检测仪
纯净近红外光谱输出,屏蔽可见光干扰。内置 IR80 滤光片,滤除全部可见光,仅输出 800‑1100nm 近红外,适配 InGaAs 红外相机成像,消除杂散光干扰,适合硅材料红外穿透检测。
直流点灯无频闪,区别交流调光光源,无 50/60Hz 频闪,适配高速红外成像、动态光谱采集,图像无明暗条纹。
多重控制方式:面板旋钮本地调节光量,输出 2‑100% 线性可调;具备 DC0‑5V 远程电压控制,方便集成自动化设备产线。自带灯泡断线检测,灯泡损坏输出报警信号。
硬件保护机制:下垂式过流自恢复保护;过热保护触发直接切断输出,重新上电复位;强制风扇风冷,适合实验室与洁净室长时间运行。
宽电压 AC100‑240V 全球通用,体积小巧 115×130×231mm,重量仅 2.7kg,可桌面摆放,也可设备机柜内安装。
光源灯泡:JCR12V100W10H/G1/IR 近红外反射卤素灯
输出光谱:800‑1100nm,内置 IR80 滤光片,截止可见光
点灯方式:DC 直流点灯(无频闪)
功耗:最大 130W
光量调节:DC3‑12V,光强 2‑100%
控制:本机旋钮 / DC0‑5V 远程模拟控制;灯泡断线检测报警输出
保护:过流自恢复保护;过热断电保护
供电:AC100‑120V /200‑240V ±10%,50‑60Hz
冷却:强制风扇冷却
外形尺寸:W115 × H130 × D231 mm(不含凸起)
整机重量:约 2.7kg
使用环境:0‑40℃,湿度 20‑80% RH,无凝露
灯泡参考寿命:1000H(消耗件)
半导体硅晶圆、芯片红外透射检测,查找内部隐裂、空洞、TSV 封装缺陷。
红外机器视觉、夜视观察、近红外图像处理系统照明。
理化近红外光谱实验、材料光学特性测试。
科研实验室、自动化设备集成红外照明单元。
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