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描述：日本YAMADA YP-250I高亮度卤素芯片检查光源是半导体行业专用高亮度卤素检查光源，搭载250W大功率卤素灯泡，全波段连续光谱、高显色无偏色，专为芯片、晶圆、基板微观缺陷检测设计。设备照度可达400000Lx以上，采用冷镜隔热技术，大幅降低热辐射损伤，支持高低两档照度切换。照射距离标准220mm、光斑均匀锐利，可清晰识别芯片划痕、针孔、脏污、镀膜不均等微米级瑕疵，散热稳定、光线一致性强

产品型号：
厂商性质：代理商
更新时间：2026-09-11
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本YAMADA YP-250I高亮度卤素芯片检查光源 日本YAMADA YP-250I高亮度卤素芯片检查光源

1、产品细节图

整机为立式精密光源机身，主体金属机身搭配哑光烤漆工艺，机身刻印YAMADA品牌与YP-250I型号标识。上部为光源聚光腔体与精密反光透镜结构，中部集成散热风道与档位调节开关，底部配备标准20φ固定安装轴座，支持设备支架固定安装。整机结构紧凑规整，光路密闭性强，无杂光外泄。白底整机实拍无水印，外观专业精密；场景实拍可展示芯片工作台点灯检测、晶圆表面微观瑕疵筛查的作业状态，适配无尘车间精密质检工位使用。

2、产品性能

YP-250I核心优势为全光谱高显色+超高均匀照度+低发热，区别于常规LED光源存在的光谱断层、偏色、光斑不均等问题。设备采用欧司朗FLC24V250W专业卤素灯泡，输出可见光连续全波段光谱，色温稳定3400K，显色效果贴近自然光，可真实还原芯片表层纹理、镀膜色差与细微缺陷，杜绝视觉误判。设备额定照度可达400000Lx以上，光斑直径集中均匀，边缘锐利无虚化，适配微米级微观检测。

搭载专业冷镜隔热技术，热辐射仅为传统铝反光镜的1/3，长时间照射不会造成芯片、精密基板热变形、热损伤，适配热敏性半导体元器件检测。机身支持两档照度切换，可根据检测场景灵活切换高亮筛查与常规观察模式，适配粗检、精检双重需求。配备强制风冷散热系统，持续点灯工况下机身温度稳定，光线无漂移、无频闪，长时间作业检测一致性高。

3、产品用材

整机框架采用高强度防锈合金板材，刚性强、不易变形，适配无尘车间长期稳定使用。核心光路搭载高精度二向色冷镜反光镜片，透光聚光效果优异、隔热性能突出，耐老化、不易氧化变色。光源腔体采用密闭遮光结构，杜绝环境杂光干扰，保障光斑纯净度。散热系统配备静音高速风扇，风道布局合理，散热效率高、运行噪音低。调节按键耐磨耐损，整机工艺精密，光路结构稳定，长期使用无光斑偏移、照度衰减慢。

4、核心参数表

参数项目	技术规格
设备型号	YP-250I
光源规格	FLC24V 250W卤素灯泡（欧司朗）
中心照度	≥400000Lx
标准色温	3400K
标准照射距离	220mm
有效光斑直径	40mmφ
散热方式	强制风冷散热
灯泡寿命	30–50小时
整机尺寸	122×394×131mm
整机重量	约3.59kg

5、型号说明

YP-250I是山田光学工业级高亮度卤素检测光源，对标小功率YP-150I机型，250W大功率配置照度更高、照射距离更远、光斑覆盖更广，适配高精度、大尺寸芯片与晶圆检测场景。机型标配双档调光、强制风冷、冷镜隔热结构，无多余选配版本，整机一体化光路设计，是半导体精密外观检测的主流标准机型。

6、产品用途

主要用于半导体芯片、硅晶圆、PCB精密基板、光学镜片、镀膜元器件的外观缺陷检测。可精准识别芯片表面划痕、针孔、污渍、氧化斑点、镀膜不均、边缘崩边等细微瑕疵，同时适配显微辅助照明、精密元器件来料质检、成品不良筛查、实验室光学观测等场景，广泛应用于半导体封装、光电制造、精密电子行业的品质管控。

7、产品包装

采用出口防震纸箱/木箱包装，内含YP-250I光源主机、原装250W卤素灯泡、固定安装支座、电源线、说明书、出厂检测报告。设备防护严实，有效避免运输过程中光路镜片磕碰、机身变形，整机到货可直接安装调试使用。

8、使用说明

设备安装于稳固支架，放置无尘检测工位，接通适配电源后开机预热1–3分钟，待光线亮度、色温稳定后即可开展检测作业。根据检测需求切换高低照度档位，调整照射距离至标准220mm，保证光斑居中均匀覆盖待测芯片区域。作业过程中避免直视高亮光源，防止强光刺眼；设备连续工作时保持风道通畅，禁止遮挡散热风口。停机后需等待风扇延时散热完毕再断电收纳，灯泡属于易耗配件，亮度衰减后及时更换，保障检测精度。

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2、产品性能

3、产品用材

4、核心参数表

5、型号说明

6、产品用途

7、产品包装

8、使用说明

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