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日本ueno-seiki-nagano半导体测试分选设备

描述:日本ueno-seiki-nagano半导体测试分选设备上野精机长野分选设备面向 IGBT、IPM 功率器件,集成自动上料、AOI 外观检测、电性测试、分选编带功能。视觉识别微米级划痕、脏污、缺损。无损伤 Z 轴力控搬运,避免器件划伤。支持料管、托盘、卷带进出料,配套生产管理系统记录测试数据,适用于半导体封装厂元器件检测分选。

  • 产品型号:IGBT/IPM 常温 Handler
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-09-28
  • 访问量:19
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本ueno-seiki-nagano半导体测试分选设备日本ueno-seiki-nagano半导体测试分选设备

产品介绍产品细节图整机封闭式机柜,半透明防静电防护视窗,内部集成高速搬运机械手、光学视觉检测模组。机柜上部配置显示器与触控操作面板,三色状态警示灯。设备底部减震调平脚座。分为 IGBT 常温测试 handler、卷带后外观检查机。机械搬运机构布局规整,光学镜头组件位置可调,模块化结构,视觉单元、搬运单元可以单独检修更换。

产品性能面向功率半导体 IGBT、IPM、小型电子元器件,实现自动上料、搬运、六面外观 AOI 视觉检测、电性测试、卷带编带出料。视觉可识别微米级表面划痕、缺损、脏污。无损伤 Z 轴力控制搬运,高速搬运不划伤脆弱元器件。可对接卷带、料管、托盘多种供料出料方式。配套 EYE GATE 生产管理系统,记录检测数据,输出生产报表。支持常温、高温多工况测试,产能最高数万 UPH 级别,可集成激光打标功能。

用材设备机架加厚钣金喷涂防静电涂层。防护窗口防静电 PC 板。搬运执行件耐磨工程塑料及航空铝合金。光学镜头组件高精度光学玻璃。运动模组进口线性传动部件。内部线束耐弯折工业线缆。

参数表

表格

设备名称适用对象核心能力出料方式
外观检查 Handler功率器件 IGBT、IPM多面外观缺陷检测卷带、料管
IGBT/IPM 常温 HandlerIGBT 功率模块电性测试 + 外观检查卷带、托盘
编带后外观检查装置卷带封装元器件编带完成后复检收卷盘出料

型号产品涵盖外观检查 Handler、IGBT‑IPM 常温测试 Handler、编带后外观检查装置,配套 EYE‑GATE 生产管理软件,可根据元器件尺寸定制治具。

用途用于半导体功率器件、IGBT、IPM、小型分立元器件生产后端外观缺陷检测、电性测试、分选编带。应用于半导体封装测试工厂、功率器件研发企业。

包装整机大型熏蒸木框架,光学镜头做防尘保护;显示器单独泡沫包装;治具配件分盒收纳;附带设备图纸、软件安装包、操作手册。

使用说明设备安置恒温无尘车间,调平减震脚座;接通电源气源,导入产品检测程序;标定视觉镜头;上料后启动自动检测;定期清洁光学镜头;定期校准搬运机构;备份检测程序与生产数据库。


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