描述：德国NAGY SD-810薄膜四探针方块电阻测试仪这款德国 NAGY-Instruments 研发的面电阻检测设备，依托四探针接触方式完成导电薄膜的方块电阻检测，适配多种镀膜基材。设备量程可自动切换，读数输出形式丰富，配套伸缩式探针，降低膜层划伤风险，适合实验室离线检测与产线抽检，我司可协助标定与测试方案搭建。

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厂商性质：代理商
更新时间：2026-11-12
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

德国NAGY SD-810薄膜四探针方块电阻测试仪德国NAGY SD-810薄膜四探针方块电阻测试仪

这款德国 NAGY-Instruments 研发的面电阻检测设备，依托四探针接触方式完成导电薄膜的方块电阻检测，适配多种镀膜基材。设备量程可自动切换，读数输出形式丰富，配套伸缩式探针，降低膜层划伤风险，适合实验室离线检测与产线抽检，我司可协助标定与测试方案搭建。

产品介绍产品细节图主机为台式一体化箱体，外壳造型规整，正面搭载彩色触控显示屏，可直观展示测量读数、单位标识以及量程状态，机身背部布置探针信号接口、供电端口以及数据导出接口。配套独立的四探针测量探头，探头内部探针具备弹性伸缩结构，针头经过精细抛光处理，接触样品的时候压力柔和，减少薄膜表面产生划痕。探头线缆采用屏蔽结构，可以降低环境电磁干扰对采集信号带来的影响。整套设备可以搭配不同规格探针组件，适配大面积板材以及小型试样，配套标准校准片用于定期校验，存放时探头可以安置在专用收纳座，避免针尖磕碰受损。机身底部带有防滑脚垫，放置在实验台面不容易移位，屏幕菜单布局简洁，调试操作门槛不高。产品性能设备采用经典四探针测量原理，电流经由外侧两根探针送入待测薄膜，内侧两根探针采集电压信号，依托运算换算得到方块电阻数值，能够有效规避探针本身接触电阻带来的干扰。设备内置多档量程，测量过程当中可以自动匹配合适档位，测量结果可以选用两种单位展示，满足不同行业习惯。仪器自带存储功能，可以保存校准记录与多组测量数据，支持外接设备导出记录，方便后续整理对比。整套测量方案对各类薄层导电镀层适应性良好，在重复测试的时候数据一致性稳定，只要规避强电场与剧烈震动，就可以长期维持稳定检测能力。探头的弹性结构让它可以适配表面轻微起伏的试样，不必要求基材绝对平整，拓宽试样适配范围。用材主机壳体选用高强度工程塑料，抗磕碰，长期使用不易形变；触控屏幕表面带有防刮保护层；探针基座选用绝缘稳定材料；探针针尖选用耐磨贵金属材质；信号线缆带有屏蔽护套；配套校准片为经过标定的标准薄膜基材。参数表

项目	规格
型号	SD-810
测量原理	四探针接触式
测量项目	方块电阻
测量范围	0～200 KΩ/sq
显示单位	Ω/sq、S/sq
配套组件	弹性伸缩四探针探头
附加功能	自动量程切换、数据存储

型号该款属于离线台式检测机型，同品牌还有在线安装版本以及不同探针间距的探头配件。选型阶段确认待测薄膜大致电阻区间、试样尺寸，确定是否需要选配专用探针以及标准校准片。用途多用于低辐射镀膜玻璃、透明导电玻璃、光伏薄膜、柔性线路镀层、金属化薄膜、导电纸以及各类半导体薄层试样检测，在镀膜研发、来料质检、成品抽检环节使用。包装硬质木箱封装，主机、探头、信号线、校准片以及纸质资料分区放置，泡沫缓冲隔离精密探头，防止运输震动造成针尖变形，小件配件独立密封收纳。使用说明开机之后按照提示完成校准，使用标准片核对读数之后再开展试样测试。放置探头的时候轻拿轻放，不要用力按压，避免针尖弯折。测试完成之后，将探头放回专用底座，不要让针尖长期直接压在硬质台面。如果长期不用，做好防尘防护，定期复校保证测量可靠，测试环境尽量避开强电磁设备。

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