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外观分析设备

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Founderlab树脂颗粒薄膜系列检测设备 Founderlab树脂颗粒薄膜系列检测设备，专注高分子材料检测与小型工艺设备。产品线覆盖薄膜鱼眼检测仪、桌面式鱼眼检测仪、树脂颗粒杂质扫描仪、洁净度筛选机，同时配套实验室流延膜机、在线熔融指数仪、聚合物在线分析系统。可检测薄膜晶点鱼眼、树脂颗粒杂质、洁净度；兼顾离线实验室检测与产线在线品检，服务塑料、高分子新材料研发与品质管控。

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2026-09-08

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LO‑300日本堀场horiba 激光扫描式油膜检测仪日本堀场horiba 激光扫描式油膜检测仪日本 horiba 堀场 LO‑300 激光扫描式油膜检测仪，采用半导体激光扫描反射检测原理，属于非接触式在线监测设备，用于探测水面、地面漂浮油膜，实现油品泄漏早期预警。设备无需接触水体，无耗材损耗，可应对带有波纹的流动水面；具备自动光轴找正，现场安装调试便捷。

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2026-08-28

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NS‑03日本ims 便携式磁极分辨快速检测仪日本ims 便携式磁极分辨快速检测仪日本 IMS NS‑03 便携式磁铁 N/S 极快速分辨测试仪，手持式便携检测工具，可快速识别磁铁的磁极方向，通过指示灯直接显示 N 极、S 极结果。整机造型小巧，手持操作方便，具备自动断电功能，无需复杂调试，靠近被测磁铁即可完成极性判别，适用于产线分选、来料检验、样品分拣，也可用于实验室磁铁极性确认作业。

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2026-08-28

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TMS‑2000日本santec 半导体晶圆平坦度检测仪日本santec 半导体晶圆平坦度检测仪日本 Santec TMS‑2000 晶圆厚度分布计，为半导体行业一体化非接触晶圆厚度与平坦度测绘系统，采用激光干涉测量原理，仅单面入射光路，无需晶圆双面透光。整机为紧凑型台式一体机，内置晶圆承载工作台、光学测量单元与配套分析软件，可完成整片晶圆全域扫描，输出厚度分布云图、全局与点位平坦度数据。

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2026-08-27

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HGM‑SZ日本aims 冷媒气体在线报警检测仪日本aims 冷媒气体在线报警检测仪日本 Aims HGM‑SZ 单点式卤素冷媒气体泄漏监测仪，属于单区域固定式气体监测主机，专门针对卤素类冷媒气体做定点持续监测。设备可以 24 小时不间断采集环境内冷媒浓度，实时显示读数，一旦浓度超出设定阈值，即可触发报警提示，及时发现管路、机组的冷媒泄漏隐患。

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2026-08-27

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