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  • GSD-719K日本得乐teclock 橡胶软塑料硬度测试仪
    GSD-719K日本得乐teclock 橡胶软塑料硬度测试仪 日本得乐teclock 橡胶软塑料硬度测试仪。专为软橡胶、弹性体、软 PVC、硅胶、发泡塑胶等软性材料硬度检测设计。整机手持式便携结构,高精度数显读数,自带峰值锁定、数值保持功能,可选配数据线外接电脑导出检测数据,测量稳定、重复性佳,广泛用于橡胶厂、硅胶制品、塑胶行业来料质检与成品硬度管控。
    01

    更新日期

    2026-06-03
    02

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  • Fluke820-2美国福禄克fluke 工业便携式频闪测速仪
    Fluke820-2美国福禄克fluke 工业便携式频闪测速仪 美国福禄克fluke 工业便携式频闪测速仪。托石英晶振控制系统实现 ±0.02% 超高测量精度,搭载 7 颗阵列式高亮 LED 光源,无需反光贴纸、不用接触设备,即可在设备不停机工况下定格高速运转工件,直观观测零部件磨损、滑移、偏心缺陷,同时精准读取转速数值。
    01

    更新日期

    2026-06-03
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  • SRS-2010日本napson 半导体扩散层电阻率测试仪
    SRS-2010日本napson 半导体扩散层电阻率测试仪 日本napson 半导体扩散层电阻率测试仪依托两探针扩展电阻法,专门针对斜角研磨切片样品做纵深方向电阻率连续扫描,解析半导体扩散层、离子注入层、外延层从表层到衬底的电阻变化曲线,换算 PN 结深度、载流子浓度纵向分布、薄膜厚度,是半导体器件研发、晶圆扩散工艺失效分析、化合物半导体材料电性剖析的机型。
    01

    更新日期

    2026-06-03
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  • DI‑9M‑8/08日本思达杉崎计器cedar 数显扭力测试仪
    DI‑9M‑8/08日本思达杉崎计器cedar 数显扭力测试仪 日本思达杉崎计器cedar 数显扭力测试仪,两款设备外观、结构、功能、操作方式一致,仅测量量程与分辨率不同,分别对应常规扭矩与微量扭矩两大应用场景。设备搭载品牌专属 OW 免回卷接头,连续测试无需反向复位,大幅提升作业效率;支持顺时针、逆时针双向扭矩检测,搭配多种测量模式、声光判定、参数存储与数据传输功能,整机精度稳定、操作简便。
    01

    更新日期

    2026-05-29
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  • L2100日本日置hioki 针型测试线
    L2100日本日置hioki 针型测试线 日本日置hioki 针型测试线,,采用电流、电压回路分离设计,可消除线阻带来的测量误差,搭配弹簧伸缩探针,接触稳定。整机支持 DC 1000V 高压工况,专为日置微电阻计、电池测试仪配套使用,适用于高压电池、大端子、连接片等场景的高精度低电阻检测,布线便捷、耐用性强。
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    更新日期

    2026-05-28
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