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外观分析设备

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ICF‑330日本nanotec 硬质薄膜制备试验装置日本nanotec 硬质薄膜制备试验装置实验室专用小型真空成膜设备，用于完成类金刚石薄膜的制备实验，实现样品表面改性处理。整机集成真空腔体、气路、控制系统，操作界面集中，适合开展新材料配方、工艺条件摸索，多用于高校实验室以及企业前期工艺研发。

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2026-08-25

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SS‑30WD日本seishin 引线焊点拉力压力试验机日本seishin 引线焊点拉力压力试验机面向半导体封装行业的键合推拉力测试设备，用于检测芯片引线、焊点的焊接结合强度，完成推力、拉力测试，评估键合工艺品质，可采集完整测试数据，适用于工艺开发、样品验证以及产线品质管控。

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2026-08-25

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PGS‑RZ日本NSK 粉粒体自动异物检查机日本NSK 粉粒体自动异物检查机针对粉体、颗粒物料开发的自动化异物检查设备，依靠视觉成像完成物料内部杂质、异色颗粒、外来异物识别，实现连续进料检测，自动完成数据记录，减少人工目检带来的不稳定因素，保障粉体原料成品品质，适配多行业粉粒体来料及成品质检。

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2026-08-25

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EL270F日本otsuka 悬臂式有机 EL 质检检查灯日本otsuka 悬臂式有机 EL 质检检查灯有机 EL 面发光式目视检测照明设备，发光均匀柔和，可降低反光眩光，便于识别工件表面细微划痕、压痕、颗粒异物等瑕疵。配置多关节金属悬臂与桌夹底座，灯头角度与位置可灵活调整，适用于各类平板、薄膜、精密零部件的外观质检作业。

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2026-08-25

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LEX‑3132BK日本kaneka 悬臂式表面缺陷检查灯日本kaneka 悬臂式表面缺陷检查灯采用有机 EL 发光面板的台式目视检查照明设备，发光面均匀柔和，眩光低，可显现工件表面细微划痕、凹凸、异物等瑕疵。搭配多关节悬臂支架，灯板位置、角度可灵活调整，适合大面积平板工件的外观质检作业。

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2026-08-25

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