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日本seishin 引线焊点拉力压力试验机

描述:日本seishin 引线焊点拉力压力试验机
面向半导体封装行业的键合推拉力测试设备,用于检测芯片引线、焊点的焊接结合强度,完成推力、拉力测试,评估键合工艺品质,可采集完整测试数据,适用于工艺开发、样品验证以及产线品质管控。

  • 产品型号:SS‑30WD
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-08-25
  • 访问量:16
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本seishin 引线焊点拉力压力试验机

核心参数

  • 产品型号:SS‑30WD

  • 产品类型:半导体推拉力键合测试机

  • 推力量程:0‑30kgf

  • 拉力量程:0‑30kgf

  • 力值分辨率:0.01gf

  • 移动行程:X 轴 100mm,Y 轴 80mm,Z 轴 50mm

  • 驱动方式:伺服电机精密驱动

  • 测试模式:推力测试、拉力测试,多种测试流程可编辑

  • 数据输出:自动保存力值曲线、测试报告

  • 供电电源:AC100‑240V,50‑60Hz

  • 整机尺寸:420×500×580mm

  • 整机重量:约 62kg

  • 工作环境:20‑28℃,湿度 20‑70% RH,无振动干扰

日本seishin 引线焊点拉力压力试验机

功能特点

  1. 可执行推力、拉力两类测试,评估半导体焊点键合牢固程度。

  2. 高分辨率力传感器,捕捉微小力值变化,测试精度高。

  3. 伺服驱动三轴运动平台,定位精准,运动平稳。

  4. 支持自定义编辑测试流程,适配不同样品测试需求。

  5. 自动记录力‑位移曲线,完整留存测试原始数据。

  6. 配备观测窗口,便于观察样品测试时的状态变化。

  7. 台式整机结构,可放置在防震台开展微电子样品测试。

  8. 可导出测试报告,方便品质追溯、工艺对比分析。

  9. 换样调试便捷,适配多种封装规格芯片样品。10. 适用于实验室研发,也可用于产线抽样品质检验。

适用场景

  1. 半导体封装工艺开发,键合工艺参数验证。

  2. 金线、铜线引线焊点的拉力、推力强度检测。

  3. 芯片贴片焊接强度性能评估测试。

  4. 微电子元器件来料及成品抽样检验。

  5. 实验室开展封装材料、工艺对比实验。

  6. 半导体工厂产线,产品品质可靠性验证。

  7. 高校及科研院所,微电子相关课题实验。

  8. 元器件失效分析,排查焊点脱落故障原因。

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