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日本ORC UV-M10-P/S照射器紫外线光量测量仪

描述:日本ORC UV-M10-P/S照射器紫外线光量测量仪UV-M10-P、UV-M10-S 是日本 ORC 桌上型紫外线光量测量仪,用于 UV 照射设备的紫外辐照度与累积光能量检测。搭载可分离式受光传感器,可实时读取瞬时照度,同步累积紫外能量,具备曝光控制信号输出功能。测量波段 310~385nm,双量程切换,适配 UV 固化、光刻曝光工艺。UV-M10-S 为台式主机,UV-M10-P 为设备嵌入

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-10-17
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本ORC UV-M10-P/S照射器紫外线光量测量仪日本ORC UV-M10-P/S照射器紫外线光量测量仪

UV-M10-P、UV-M10-S 是日本 ORC 桌上型紫外线光量测量仪,用于 UV 照射设备的紫外辐照度与累积光能量检测。搭载可分离式受光传感器,可实时读取瞬时照度,同步累积紫外能量,具备曝光控制信号输出功能。测量波段 310~385nm,双量程切换,适配 UV 固化、光刻曝光工艺。UV-M10-S 为台式主机,UV-M10-P 为设备嵌入型,适合产线集成或实验室台面检测,用于光源老化监测、工艺参数确认。

产品细节图整套仪器包含主机、分体式受光探头、信号连接线、电源线。主机外壳为金属箱体,正面配有数字显示屏与薄膜操作按键,可切换照度、时间、累积光量显示模式。受光探头体积小巧,可放置在 UV 照射光路、传送带表面或腔体内部开展多点检测,探头通过线缆与主机连接。UV-M10-S 为独立台式款式,放置于操作台使用;UV-M10-P 为嵌入式机型,可直接集成到 UV 照射设备内部,作为产线在线监测组件。

产品性能仪器依托光电转换原理采集紫外信号,内置波段滤光组件,减少可见光等杂散光干扰。具备双量程切换,照度范围 0.01~10mW/cm²、0.1~50mW/cm²,可同时测量瞬时辐照度与累积紫外能量,测量过程中可随时切换显示项目。内置多组光量阈值设定,达到设定能量值后输出控制信号,联动 UV 照射装置实现曝光管控。探头响应速度快,支持多点均匀度检测,用来评估 UV 光源幅宽方向光强分布,排查局部能量不足。设备自带基础自检功能,方便日常确认仪器状态。

用材主机壳体选用防锈金属板材,结构坚固,降低电磁干扰,适配车间工业环境。受光探头外壳采用耐 UV 老化工程塑料,前端光学滤镜透光特性稳定,长期紫外照射下衰减缓慢。内部光电传感元件经过原厂标定,信号稳定性好;连接线缆采用耐老化屏蔽线,降低现场电磁噪声对测量信号的影响。面板薄膜按键耐磨,适合长期反复操作。

参数表

表格

项目参数
型号UV-M10-P / UV-M10-S
测量对象紫外线辐照度、累积紫外光量
波长范围310~385nm
照度量程量程 1:0.01~10.00mW/cm²;量程 2:0.1~50.0mW/cm²
功能照度显示、光量积分、计时、阈值信号输出
探头形式分体式可更换受光传感器
供电AC100V
UV-M10-S台式独立主机,实验室 / 现场检测
UV-M10-P嵌入型,用于设备集成
标配主机、受光探头、信号电缆、电源线、说明书、出厂证书

型号UV-M10-S 为台式独立机型,适合实验室、产线抽检;UV-M10-P 为设备内置嵌入款,用于 UV 曝光机、固化设备集成在线监测。可按需选配不同规格受光探头、原厂计量校准证书,适配不同 UV 光源。

用途PCB 线路板 UV 曝光工艺监测;半导体、光学薄膜光刻曝光能量管控;UV 油墨、涂料、胶粘剂固化工艺检测;UV 光源老化衰减定期校验;实验室光化学、光刻胶相关研发试验;产线 UV 照射幅宽光强均匀性检测。

包装定制防震纸箱,主机、探头分别使用气泡膜隔离防护,线缆单独收纳,防止运输挤压损伤光学探头。箱内附带原厂检验证书、操作维护手册,适合进口长途运输,到货后可直接开箱清点配件。

使用说明将受光探头放置于待测紫外照射区域,连接探头线缆与主机,接通电源。开机后完成仪器自检,根据预估光强选择对应量程,设置目标光量阈值,启动 UV 光源进行测量。主机实时显示瞬时照度并持续累积能量,到达设定光量可输出联动信号。测试完成关闭光源与仪器,清洁探头表面灰尘。探头光学窗口避免划伤;长时间使用后,需定期送回原厂校准,保证测量准确度。避免探头长时间持续暴露在高强度紫外线下,减少滤镜老化。

售后服务我司提供到货开箱验收,协助接线、参数设置与操作指导。原厂质保期内,非人为损坏故障提供维修;各类受光探头、连接线缆等配件可单独订货。可提供仪器年度计量校准咨询,协助建立 UV 工艺日常检测方案。


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