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日本INTECS UIH-2D 卤素高辉度表面检查灯
日本INTECS UIH-2D 卤素高辉度表面检查灯UIH-2D 为 INTECS 高辉度卤素照明检查装置，采用卤素光源，搭配光纤导管输出强光，光斑亮度高、光谱连续，适合精密工件表面微小缺陷目视检查。主机内置温控保护，支持亮度调节，光线经光纤导出，主机热源远离样品。灯泡老化、光纤端面积尘、环境高温会造成照度衰减。多用于晶圆、光学元件、镀膜件外观检测，适合洁净室使用。
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更新日期
2026-09-09
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厂商性质
代理商
- 03
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110
YP‑150ID日本YAMADA山田半导体晶圆基板缺陷检查灯
日本YAMADA山田半导体晶圆基板缺陷检查灯YP‑150I 为宏观观察用高照度卤素光源装置，照射光斑 φ30mm，照射距离 140mm 位置照度可达 400000Lx 以上，用于半导体硅晶圆、液晶基板表面异物、划痕、研磨不均、雾度、滑移缺陷目视检查。采用冷镜光学结构，热辐射相比传统铝镜降低约 2/3；具备两档照度一键切换，高照度 / 低照度快速切换观察
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更新日期
2026-09-09
- 02
厂商性质
代理商
- 03
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116
PGS‑RZ日本NSK 粉粒体自动异物检查机
日本NSK 粉粒体自动异物检查机
针对粉体、颗粒物料开发的自动化异物检查设备，依靠视觉成像完成物料内部杂质、异色颗粒、外来异物识别，实现连续进料检测，自动完成数据记录，减少人工目检带来的不稳定因素，保障粉体原料成品品质，适配多行业粉粒体来料及成品质检。
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更新日期
2026-08-25
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厂商性质
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- 03
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144
EL270F日本otsuka 悬臂式有机 EL 质检检查灯
日本otsuka 悬臂式有机 EL 质检检查灯
有机 EL 面发光式目视检测照明设备，发光均匀柔和，可降低反光眩光，便于识别工件表面细微划痕、压痕、颗粒异物等瑕疵。配置多关节金属悬臂与桌夹底座，灯头角度与位置可灵活调整，适用于各类平板、薄膜、精密零部件的外观质检作业。
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更新日期
2026-08-25
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厂商性质
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- 03
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112
LEX‑3132BK日本kaneka 悬臂式表面缺陷检查灯
日本kaneka 悬臂式表面缺陷检查灯
采用有机 EL 发光面板的台式目视检查照明设备，发光面均匀柔和，眩光低，可显现工件表面细微划痕、凹凸、异物等瑕疵。搭配多关节悬臂支架，灯板位置、角度可灵活调整，适合大面积平板工件的外观质检作业。
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2026-08-25
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厂商性质
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- 03
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