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  • LCK‑100 Series日本lightest 工件表面缺陷检查灯
    LCK‑100 Series日本lightest 工件表面缺陷检查灯 日本lightest 工件表面缺陷检查灯 专用于工件表面目视质检的照明设备,采用专用光谱光源,可凸显工件上细微划痕、麻点、凹凸等不易察觉的表面瑕疵。配置可弯折柔性支架,照射角度灵活可调,适配各类零部件外观检验,广泛用于工厂质检工位开展样品外观筛查工作。
    01

    更新日期

    2026-08-25
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  • KNL-35D / KNL-55D日本lightest 可调角度干涉条纹检查灯
    KNL-35D / KNL-55D日本lightest 可调角度干涉条纹检查灯 日本lightest 可调角度干涉条纹检查灯 专用干涉条纹检测照明设备,采用特殊光谱光源,让工件表面的干涉纹路、微小凹凸形变实现可视化。灯头照射角度可大范围调节,配套承载工作台面,适合平板类光学工件做外观品质筛查,可识别异物、气泡、指纹以及平面形变带来的干涉条纹缺陷。
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    更新日期

    2026-08-25
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  • LCK‑100R日本lightest 工件划痕缺陷检测照明灯
    LCK‑100R日本lightest 工件划痕缺陷检测照明灯 日本lightest 工件划痕缺陷检测照明灯 专为工件表面目视检测设计的专用照明设备,输出特色绿光,可凸显工件细微划痕、麻点等各类表面瑕疵。配备可弯折柔性支架,能够灵活调整照射角度,方便质检人员多角度观察工件,多用于零部件外观品质检验工序。
    01

    更新日期

    2026-08-25
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  • CSYS12‑300日本csys 激光扫描表面形状检查机
    CSYS12‑300日本csys 激光扫描表面形状检查机 日本csys 激光扫描表面形状检查机 非接触式激光扫描检测设备,依靠光学反射原理完成工件全域扫描,获取完整的表面三维形貌信息。可识别细微起伏、波纹、划痕与颗粒类缺陷,无需对样品造成损伤,扫描效率高,适配镜面、抛光、薄膜类工件,用于半导体、存储器件、功能薄膜的品质检测与工艺评价工作。
    01

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    2026-08-24
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  • SPA2‑10SWW日本林时计h‑repic 台式工业检查照明灯
    SPA2‑10SWW日本林时计h‑repic 台式工业检查照明灯 日本林时计h‑repic 台式工业检查照明灯 SPA2‑10SWW 为林时计 h‑repic 广角型 LED 目视检查灯,搭载专用广角光学镜片,可实现大直径范围均匀照明,适合整件工件全域区域检查。配置可弯曲万向软管,照射角度可自由调整,无风扇自然散热结构,不会吹起车间粉尘碎屑,支持亮度连续调节,白光光源,用来识别表面划痕、污渍、镀层不均、色差等外观缺陷。
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    更新日期

    2026-08-18
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