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TMS‑2000日本santec 半导体晶圆平坦度检测仪
日本santec 半导体晶圆平坦度检测仪
日本 Santec TMS‑2000 晶圆厚度分布计，为半导体行业一体化非接触晶圆厚度与平坦度测绘系统，采用激光干涉测量原理，仅单面入射光路，无需晶圆双面透光。整机为紧凑型台式一体机，内置晶圆承载工作台、光学测量单元与配套分析软件，可完成整片晶圆全域扫描，输出厚度分布云图、全局与点位平坦度数据。
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更新日期
2026-08-27
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厂商性质
代理商
- 03
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73
OPS‑1000日本santec 光学坐标测量装置
日本santec 光学坐标测量装置
日本 Santec OPS‑1000 光学坐标测量装置，属于干涉式光学三维测量系统，将高速可调谐激光干涉技术用于三维形貌检测。整套设备由激光控制主机、光学测量头、电动 XY 扫描平台与三维处理软件构成，无需接触工件表面，即可完成复杂零件三维坐标、轮廓形貌扫描，输出点云数据。对哑光、深色、弱反射材质同样具备稳定检出能力。
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更新日期
2026-08-27
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厂商性质
代理商
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81
IVS‑2000‑HR日本santec 高分辨率光学断层测定器
日本santec 高分辨率光学断层测定器
日本 Santec IVS‑2000‑HR 高分辨率 1310nm 光学断层测定器，属于工业型光学相干断层扫描系统，依托 1310nm 红外光源实现样品非接触式内部断层成像。整套设备由 HSL 高速扫描激光单元、IVS‑2000 主机以及显微扫描测头组成，无需对样品做切片、破坏处理，即可获取材料内部剖面图像，分辨多层结构，完成层厚、缺陷、空隙检测。
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更新日期
2026-08-27
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厂商性质
代理商
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46
H‑10 PRO日本aims 便携式卤素气体检漏仪
日本aims 便携式卤素气体检漏仪
日本 Aims H‑10 PRO 便携式气体泄漏检测器，属于箱式一体化便携检漏设备，采用加热二极管传感原理，针对各类卤素制冷剂开展定性漏点查找定位。整机集成于硬质防护箱内，配备加长柔性采样探杆，可以伸入接头缝隙、设备底部等不易触及的位置；支持电池、市电双供电，脱离插座也可外出巡检作业。
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更新日期
2026-08-27
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厂商性质
代理商
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61
DR82日本aims 红外简单手持气体检漏仪
日本aims 红外简单手持气体检漏仪
日本 Aims DR82 红外简单泄漏检测器，为手持一体式入门红外检漏设备，采用 NDIR 非分散红外传感，用于各类冷媒泄漏的定性查找定位。整机小巧轻便，单手握持操作，配备可自由弯折定型柔性探杆，能够伸入管路接头、缝隙狭小位置。内置可充电锂电池，摆脱电源线束缚，适配上门维保、机房巡检现场使用。
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更新日期
2026-08-27
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厂商性质
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