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MFC‑4000日本mti 核磁环境磁场抵消装置
日本mti 核磁环境磁场抵消装置
日本 MTI MRIC‑3000 MRI 用磁场抵消装置，为磁共振机房环境开发的主动式磁场补偿成套设备。MRI 设备运行过程中会向外扩散杂散磁场，同时外部车辆、电梯、大型机电设备也会带来动态磁场扰动，磁场波动会直接造成磁共振图像伪影、画质下降，影响扫描成像质量。该套磁场抵消装置由磁场传感探头、控制器以及磁场补偿线圈组成，探头实时采集环境动态磁场变化。
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更新日期
2026-08-28
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厂商性质
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MFC‑4000日本mti 工件退磁处理磁性消除装置
日本mti 工件退磁处理磁性消除装置
日本 MTI MFC‑4000 台式磁性消除器装置，属于工业用交变磁场退磁设备，主要用于消除铁磁性工件经过机加工、磨削、冲压之后残留的剩磁。工件带磁容易吸附铁屑粉尘，造成零件划伤、装配卡滞，也会干扰后续检测仪器读数。该装置依靠交变衰减磁场实现消磁作业，台式整机结构，操作流程简单，将工件放置于消磁区域，设备输出交变磁场即可完成退磁处理。
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更新日期
2026-08-28
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厂商性质
代理商
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167
TMS‑2000日本santec 半导体晶圆平坦度检测仪
日本santec 半导体晶圆平坦度检测仪
日本 Santec TMS‑2000 晶圆厚度分布计，为半导体行业一体化非接触晶圆厚度与平坦度测绘系统，采用激光干涉测量原理，仅单面入射光路，无需晶圆双面透光。整机为紧凑型台式一体机，内置晶圆承载工作台、光学测量单元与配套分析软件，可完成整片晶圆全域扫描，输出厚度分布云图、全局与点位平坦度数据。
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更新日期
2026-08-27
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厂商性质
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130
OPS‑1000日本santec 光学坐标测量装置
日本santec 光学坐标测量装置
日本 Santec OPS‑1000 光学坐标测量装置，属于干涉式光学三维测量系统，将高速可调谐激光干涉技术用于三维形貌检测。整套设备由激光控制主机、光学测量头、电动 XY 扫描平台与三维处理软件构成，无需接触工件表面，即可完成复杂零件三维坐标、轮廓形貌扫描，输出点云数据。对哑光、深色、弱反射材质同样具备稳定检出能力。
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更新日期
2026-08-27
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厂商性质
代理商
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145
IVS‑2000‑HR日本santec 高分辨率光学断层测定器
日本santec 高分辨率光学断层测定器
日本 Santec IVS‑2000‑HR 高分辨率 1310nm 光学断层测定器，属于工业型光学相干断层扫描系统，依托 1310nm 红外光源实现样品非接触式内部断层成像。整套设备由 HSL 高速扫描激光单元、IVS‑2000 主机以及显微扫描测头组成，无需对样品做切片、破坏处理，即可获取材料内部剖面图像，分辨多层结构，完成层厚、缺陷、空隙检测。
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2026-08-27
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厂商性质
代理商
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