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外观分析设备

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日东精工 MCP-T710 表面电阻分析仪日东精工 MCP-T710 表面电阻分析仪日东精工 Analytech MCP-T710（原三菱化学低电阻仪），四探针法，符合 JIS K7194 标准，可测表面电阻、体积电阻率，适配导电薄膜、导电塑料、硅片、导电涂层，触屏操作，数据稳定，半导体、材料研发质检常用。

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2026-10-28

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EC-80日本 Napson涡电流非接触片电阻测试仪日本 Napson涡电流非接触片电阻测试仪日本 Napson EC-80 手动涡电流片电阻测量器，非接触无损检测，无需探针触碰样品，规避划伤晶圆、薄膜风险。搭配 4 款可选探头覆盖不同阻值区间，支持方块电阻、电阻率同步读取，晶圆放入探头下方自动触发测量。旋钮快速设置参数，操作简单，适配最大 8 寸硅片、ITO 导电膜、外延片。机身台式紧凑，适合实验室来料抽检、工艺比对，半导体、光电薄膜产线做导电层

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更新日期
2026-10-27

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Loresta-FX MCP-T380日本n-analytech材料电学四探针低阻计测量日本n-analytech材料电学四探针低阻计测量该款 MCP-T380（Loresta-FX）为手持式高精度低电阻率测定仪，采用经典四探针恒流测量法，消除导线与接触电阻带来的误差；测量量程 10⁻²～10⁶Ω，自带自动量程、数值保持与定时测量功能，支持电池与适配器双供电，机身轻便，适合导电薄膜、导电橡胶、ITO 电极、电池极片、导电浆料的现场快速检测，广泛用于材料研发与产线质检

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更新日期
2026-10-26

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3569日本tsuruga鹤贺记录和通信低电阻测试计日本tsuruga鹤贺记录和通信低电阻测试计日本 tsuruga 鹤贺电机 3569 便携式低电阻计，采用交流四端子测试法，消除引线电阻干扰。电阻量程 30mΩ～3kΩ，最小分辨率 1μΩ，同时可测量直流电压。内置数据记录功能，搭载 RS‑232C 通讯接口与模拟输出，可对接电脑采集数据。主机重量仅 1kg，电池 / 适配器双供电，自带便携提手。选配测温模块可采集温度并做换算，适合燃料电池、锂电池

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更新日期
2026-10-14

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日东精工 MCP-HT800 高阻表面体积电阻率计日东精工 MCP-HT800 高阻表面体积电阻率计，用于材料表面电阻率、体积电阻率高精度测试，量程 10³~10¹⁴Ω。内置切换开关盒，一键切换两种测试模式，搭载 29 档自动电压扫描，电压 1V~1000V。兼容 Hiresta-UP 系列多款探头，适配薄膜、塑料、防静电涂层、陶瓷、纸张等样品。彩色触摸屏操作，USB 导出数据，满足 JIS、ASTM、IEC 标准，用于绝缘、防静电材料研发与品控

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2026-09-17

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