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外观分析设备

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2026-10-27

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更新日期
2026-10-27

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日本Nick LSE‑ME40入门型接触角测量仪日本Nick LSE‑ME40入门型接触角测量仪LSE‑ME40 是日本 Nick 株式会社入门级台式接触角计，分为 Edition A 教育机构版、Edition B 通用工业版。测量范围 0‑180°，分辨率最高 0.01°，配套图像解析软件，可完成接触角、界面张力、表面自由能计算。手动样品台、手动滴液，样品台 80×80mm，适合高校教学、材料研发，评价固体表面润湿性能，设备体积小巧

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2026-10-17

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日本ORC UV-M10-P/S照射器紫外线光量测量仪日本ORC UV-M10-P/S照射器紫外线光量测量仪UV-M10-P、UV-M10-S 是日本 ORC 桌上型紫外线光量测量仪，用于 UV 照射设备的紫外辐照度与累积光能量检测。搭载可分离式受光传感器，可实时读取瞬时照度，同步累积紫外能量，具备曝光控制信号输出功能。测量波段 310~385nm，双量程切换，适配 UV 固化、光刻曝光工艺。UV-M10-S 为台式主机，UV-M10-P 为设备嵌入

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2026-10-17

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FLA-200日本Napson非接触芯片平坦度厚度测量仪日本Napson非接触芯片平坦度厚度测量仪FLA-200 是日本 Napson 奈普森半自动化非接触式晶圆平坦度与厚度测量设备，采用电容传感原理，无需触碰样品，可一次性测量厚度、TTV、Bow、Warp 及全域平坦度，符合 ASTM 标准。支持 3~8 英寸晶圆，兼容硅、SiC、GaAs、InP 等半导体材料，单点扫描速度快，内置 2D/3D 映射软件，测量数据以 CSV 导出，用于半导体芯片

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2026-10-16

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厂商性质
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