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TFL2100TFL3200TECHNOMU TFL系列非接触平面度测量仪
TECHNOMU TFL系列非接触平面度测量仪，搭载激光位移检测技术，无需接触工件即可完成晶圆、玻璃、陶瓷的平面度、平行度、翘曲检测。配备花岗岩基准底座与气浮主轴，检测精度高达0.001μm，支持2-12英寸全尺寸晶圆检测。多型号覆盖旋转扫描、XY门架、多探头高速检测模式，可自动判定工件OK/NG，适配科研检测与产线全品筛查，稳定性强、检测效率高。
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更新日期
2026-09-15
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厂商性质
代理商
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RION 理音 MR-S1 浆料在线颗粒监测装置
RION 理音 MR-S1 浆料在线颗粒监测装置，半导体 CMP 产线 POU 浆料在线颗粒监测设备。采用光遮挡法，浆料无需稀释，直接在线监测粗大颗粒，检测≥3μm、≥5μm 颗粒数量。接液部件 PFA 与合成石英，耐抛光浆料腐蚀。串接在产线管路实时采集数据，自带报警功能，一旦大颗粒突增及时预警，提前识别滤芯破损、浆料团聚，降低晶圆划痕报废风险。
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更新日期
2026-09-15
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厂商性质
代理商
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116
ELSZneoSE大塚電子 Otsuka Zeta 电位粒径测试仪
大塚電子 Otsuka Zeta 电位粒径测试仪，适配半导体 CMP 浆料研发与质控。采用 DLS 动态光散射 + 激光多普勒电泳光散射法，可同时测试粒径与 Zeta 电位，支持高浓度浆料直接测量，还可测试固体表面 Zeta 电位。自带温控模块，可选 pH 自动滴定单元，获取浆料等电点。仪器样品池经过电渗流校正，降低吸附带来的测量误差，广泛用于 CMP 磨料配方开发、来料检验，评估颗粒分散稳定性
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更新日期
2026-09-15
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厂商性质
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UIH‑3D（UIH3）日本 INTECS英特斯超高亮度卤素目视检查灯
日本 INTECS英特斯超高亮度卤素目视检查灯，利用丁达尔效应检测晶圆、掩膜版、硬盘盘片、光学透镜表面划痕、颗粒异物、内部气泡。100V‑650W 大功率卤素光源，最大照度 50 万 Lux；带过热保护，灯腔超温自动熄灯；可控硅连续调光；立式支架安装；强制风冷。广泛用于半导体、光学零部件洁净车间目视抽检工位。
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2026-09-15
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厂商性质
代理商
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日本TLV PT1 便携式疏水阀阀门检测仪
日本TLV PT1 便携式疏水阀阀门检测仪，用于蒸汽疏水阀、工业阀门、滚动轴承现场巡检；同时采集**超声波信号 + 表面温度**，自动判断疏水阀故障状态（正常 / 泄漏 / 堵塞 / 低温异常），支持轴承振动检测；内置存储器，可存 100 组疏水阀数据、100 组轴承数据；配备耳机，可听音辅助判断；LCD 背光显示，2 节 AAA 电池供电，口袋便携，适合厂区蒸汽系统日常预防性维护点检日本
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2026-09-15
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厂商性质
代理商
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