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  • KOBRA‑WFD0日本oji‑keisoku 带进样相位差测量装置
    KOBRA‑WFD0日本oji‑keisoku 带进样相位差测量装置 日本oji‑keisoku 带进样相位差测量装置 本设备为配备自动样品进给机构的相位差检测装置,采用平行尼科耳旋转测量方式,面向长条型光学薄膜开展非接触无损检测。设备可带动长幅样品自动走料扫描,获取样品长度方向相位差连续分布,同时完成取向角、波长色散、入射角依存性多项光学特性解析。整机搭载多波段光源,无需频繁更换光源耗材,检测量程覆盖极低相位差至高相位差区间。
    01

    更新日期

    2026-08-20
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  • MN‑4日本成茂narishige 手动粗动显微操作装置
    MN‑4日本成茂narishige 手动粗动显微操作装置 日本成茂narishige 手动粗动显微操作装置 MN‑4 为成茂 narishige 三轴手动粗动显微操作器,属于前置粗定位机械手,主要配合 MMO‑203 等液压精微操作器一起使用,快速将玻璃微针、微电极移入显微镜视野当中。三轴手动旋钮驱动,内置旋转机构,方便微针、样品快速拆装更换,安装调试简单。整体轻量化铝合金机身,适配倒置、体视显微镜。
    01

    更新日期

    2026-08-18
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  • LaserPIT日本advance‑riko 薄膜面内热物性测量设备
    LaserPIT日本advance‑riko 薄膜面内热物性测量设备 日本advance‑riko 薄膜面内热物性测量设备 LaserPIT 为爱德万理工 advance‑riko 扫描激光加热交流法(Angstrom 法)热扩散率测量仪,专门针对薄膜、薄板样品做面内方向热扩散率测试,结合密度、比热容参数即可换算导热系数。采用调制激光周期性加热,热冲击小,可测试自立薄板,也可依靠差分法测量基板上百纳米级镀膜,测试在真空腔体内完成,搭配专用软件完成采集与解析。
    01

    更新日期

    2026-08-18
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  • VD1000A日本eager 密封层压薄膜封装装置
    VD1000A日本eager 密封层压薄膜封装装置 日本eager 密封层压薄膜封装装置 VD1000A 属于集成注液功能的真空封口设备,可在密闭负压腔体内完成物料定量加注,再完成薄膜热压密封,多用于层压薄膜封装、软质试样封装制备。整套设备把真空腔体、精密注液机构、恒温热封模块集成为一体,腔体配置可视观察窗,作业过程可以直观查看内部状态。适配干燥低露点工况。
    01

    更新日期

    2026-08-13
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  • PF‑60日本mitaka 工件划痕磨损缺陷测量设备
    PF‑60日本mitaka 工件划痕磨损缺陷测量设备 日本mitaka 工件划痕磨损缺陷测量设备 PF‑60 属于点自动对焦式非接触表面轮廓形状测量系统,依靠激光自动对焦探头采集工件表面三维形貌,不用探针接触样品表面,专门用来量化成品表面划痕、磨损、台阶、翘曲、沟槽、凹坑等各类形貌缺陷。区别普通共聚焦设备,搭载 Scan‑AF 高速扫描模式,兼顾 60×60mm 大范围扫描与微米级微小区域精细解析。
    01

    更新日期

    2026-08-13
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