日本凯特 KETT 单粒谷物水分测定仪 PQ-520 产品介绍

更新时间：2026-06-17

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PQ-520 是日本 KETT 凯特推出的台式单粒谷物水分检测设备，采用电阻式逐粒检测技术，区别于传统整批平均水分仪，可单独读取每一粒粮食含水率并生成水分分布直方图，直观查看一批粮食干湿均匀度，无损检测、检测速度快，是米厂烘干管控、粮库收购、种业育种专用高精度检测仪器。

一、技术规格

检测原理：高频电阻式检测，自带全域自动温度补偿
适配粮种与测量区间
精米 / 糙米：11～20%；稻谷：11～35%；大麦 / 小麦：10～40%；裸麦：10～35%
测量精度：水分 20% 以内误差 ±0.5%，分辨率 0.1%
检测速度：100 粒糙米检测完成出均值≤40 秒，每分钟可测 150 粒
测量粒数设定：10～1000 粒自由设定，自动计数
显示内容：粮种类型、单粒水分、平均水分、颗粒总数、水分分布直方图
显示屏幕：荧光数码显示屏，数据清晰直观
数据输出：RS232、USB 双接口，可外接打印机、电脑软件导出数据
供电规格：宽电压 AC100-240V，50/60Hz 通用
工作环境：环境温度 5～40℃，湿度≤85% RH 无凝露
机身尺寸重量：320×254×382mm，整机净重 9kg，台式摆放稳定
标配配件：取样勺、专用镊子、电源线；可选配件：外置打印机、数据记录软件
耗材寿命：镀金电极耐久超百万粒，PEEK 旋转转盘 20 万粒免维护

二、工作原理

将谷物倒入设备进料口，机器自动分料逐颗送入检测电极，利用粮食内部水分含量不同产生的电阻差值换算单粒含水率；内置温度传感器实时补偿环境温度带来的数值偏差。全部颗粒检测完成后，设备自动计算整批平均水分，同时生成直方图，直观看出这批粮食高水分颗粒、低水分颗粒占比，无需粉碎、不破坏粮粒，检测后的粮食可正常回收加工或育种留存。

三、现场使用优势

1. 逐粒检测，解决传统仪器均值盲区

普通水分仪只能得出整批平均值，无法发现局部高湿霉变籽粒；PQ-520 单粒检测搭配分布直方图，烘干不均、掺杂高水粮、局部受潮问题一目了然，提前规避仓储发热霉变风险。

2. 全程无损检测，样品可重复利用

检测过程无挤压、无粉碎、无加热，稻谷、小麦、育种种子测完完整无损，珍贵育种样本不用消耗，生产抽检粮食检测后直接回流生产线，大幅减少样品损耗成本。

3. 自动温度补偿，车间库房数据稳定

内置恒温补偿模块，车间高温、仓库低温环境下测量数值不会漂移，数据对标烘箱国标检测法，可用于粮食收购仲裁、工厂品质体系审核，数据合规有效。

4. 操作简单，批量检测效率高

粮食直接倒入进料口一键启动，自动分料、计数、测算，不用人工逐颗摆放，大批量抽检省时省力，烘干车间可实时调整热风温度、排粮速度，稳定成品水分，节约烘干能耗。

5. 数据完整可追溯，方便报表归档

支持外接打印机现场打印检测报告，连接电脑软件可长期存储水分曲线、均值、离散度数据，米厂、粮库、种业可完整留存每一批次检测记录，满足品质溯源管理要求。

四、适用场景

大米加工厂：稻谷烘干工序监控、碾米抛光前后水分均匀度管控，提升成品整米率
粮食收购仓储：原粮入库抽样检测，筛查分层掺水、局部受潮粮食，规避仓储损耗
种业科研实验室：水稻、小麦育种单粒水分筛选，研究水分与种子发芽率关联试验
粮油质检单位：粮食水分均匀度专项检测、烘干工艺优化对比试验
面粉 / 大麦加工：小麦、大麦调质工序水分管控，稳定加工产品品质

五、日常维护

定期擦拭镀金检测电极，去除淀粉、粉尘堆积，避免接触不良造成数值偏差
避免硬物磕碰转盘与电极，转盘变形会导致粮食无法正常送入检测位
设备放置在干燥无尘台面，远离烘干热风、水汽，防止内部电路受潮
每年使用原厂标准校准板完成两点校准，保障长期测量精度稳定
长期停机断开电源，盖上防尘罩存放，防止粉尘进入传动结构

PQ-520 单粒谷物水分测定仪是粮油、种业行业差异化高精度检测设备，凭借逐粒无损检测、水分分布可视化、宽粮种适配、温度自动补偿四大核心优势，补齐传统批量水分仪只能测平均值的短板，精准管控烘干均匀度与仓储安全。整机运行稳定、检测速度快、数据可存档溯源，兼顾工厂量产质控与科研育种精细分析，是粮食全产业链专用专业水分检测设备。

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