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产品分类 / PRODUCT
更新时间:2026-09-16
浏览次数:12柯尼卡美能达 LS‑150、LS‑160 手持式数字亮度计,是采用单反(SLR)光学系统的高精度点式亮度检测仪器,主要用于非接触式测量显示屏、指示灯、背光模组等发光面亮度。整套设备由 SLR 取景光学系统、V (λ) 匹配硅光电传感器、信号放大电路、主控处理单元、双显示模块与数据存储通讯模块构成。LS‑150 与 LS‑160 硬件架构一致,区别在于测量视角与量程,LS‑150 为 1° 测量角,LS‑160 采用 1/3° 小角度,可测量更小目标区域,二者依靠光学采集、光谱校正、光电转换、信号运算流程完成亮度检测,广泛用于半导体、光学、显示行业研发与产线质检。

仪器核心光学单元为单镜头反光 SLR 光路,被测发光面发出的光线,经过前端镜头进入仪器内部。反光镜将一部分光线反射至取景器,操作人员可在目镜内直接观察、对准被测目标,取景框标记区域就是实际测量光斑,消除瞄准偏差;另一部分光线透过反光镜,抵达后端光电传感器。该光路可以屏蔽测量区域以外的杂散光干扰,避免环境背景光对测量结果造成影响。选配近摄镜头时,可缩小最小测量光斑,LS‑160 搭配近摄镜头最小可测 0.4mm 微小发光区域,适合微小指示灯、像素单元等细小发光件检测。目镜内置中性密度滤光片,测量高亮光源时,保护人眼,避免强光刺激。
人眼对不同波长可见光感知灵敏度存在差异,CIE 定义 V (λ) 明视觉光谱效率曲线,亮度测量必须贴合该曲线,测量数值才能与人眼目视感受保持一致。这款亮度计内置特制光学滤光片,与硅光电池传感器组合,对入射光做光谱校正,让仪器的光谱响应曲线高度贴合 V (λ) 标准。普通光电传感器光谱响应与人眼差异大,测量结果容易出现偏差;LS‑150/LS‑160 通过滤光片修正光谱,保证测量值和人工目视评价结果具备良好对应关系,是显示面板、光学器件外观检验的关键。
经过光谱校正后的光线照射到硅光电二极管,光子激发半导体内部载流子,产生微弱光电流。光电流大小与被测面亮度成正比,亮度越高,产生的电流信号越强。微弱电流信号送入前置放大电路,完成信号放大,再通过模数转换模块,将模拟电信号转为数字信号,传输至主控芯片。仪器搭载自动测光模式,主控根据目标亮度自动调整采样曝光时间,弱光源延长采样,高亮光源缩短采样,兼顾高低亮度场景测量稳定。LS‑150 量程覆盖 0.01~999900 cd/m²,LS‑160 扩展至高亮区间,量程可达 9999000 cd/m²,适配从微弱背光到高亮信号灯多种场景。
主控芯片读取数字化信号,结合仪器出厂标定曲线,完成计算,输出标准亮度单位 cd/m²。测量结果同步送到两处显示单元:取景器内小型显示屏与机身外侧背光 LCD 大屏,暗光环境也可清晰读数。仪器支持峰值、差值、亮度比率等计算功能,可直接对比多测点亮度差异,评估发光面均匀性。内置存储器可保存 1000 组测量数据,每组记录附带测量参数;USB 接口可连接电脑,配套软件实现数据导出、仪器远程控制,方便实验室批量测试、产线数据归档。整机采用电池供电,无需外接电源,可携带到产线、洁净车间现场抽检。
完整测量流程:操作人员通过 SLR 取景器对准待测发光区域,按下测量触发键;光线进入镜头,分光后一路用于瞄准,一路经过 V (λ) 滤光校正入射硅光电池;光信号转为电信号,放大、模数转换,主控读取信号并调用原厂标定参数计算亮度值;数值实时显示并可存入内存,支持 USB 导出。仪器符合 DIN 5032‑7 B 级精度标准,出厂附带原厂校准证书,长期使用需要定期用标准亮度片校准,补偿传感器老化带来的漂移。测量时要避免镜头光学窗口划伤,防止灰尘、油污影响进光,保证测量精度。
LS‑150/LS‑160 亮度计依托 SLR 单反光学系统精准定位测量区域,通过 V (λ) 光谱校正模拟人眼视觉特性,利用硅光电二极管完成光电转换,经主控运算输出亮度数值。非接触式测量方式不会划伤显示屏、光学薄膜等精密工件,小角度版本可检测微小发光点位,兼顾实验室研发调试与产线外观品质检测,是显示行业、半导体光学零部件亮度一致性检测的核心仪器。
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