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技术文章/ Technical Articles

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产品分类 / PRODUCT

  • EddyCus TF Portable 1010 手持薄层电阻测试仪 核心特点

    EddyCusTFPortable1010是涡流法手持方块电阻检测设备,依靠涡流感应原理做无损检测,不需要探针直接扎入薄膜,可检测带保护层、封装状态下的导电薄层。整机由主机壳体、内置涡流传感探头、彩色触控屏幕、锂电池单元、蓝牙通讯模块组成。探头表面沾染粉尘、工件边缘位置、基材厚度不足,都会带来读数偏差。适合大型板材、卷材现场抽检,设备使用环境避开强电磁干扰,不要重压磕碰探头端面。核心参数1.测量原理:高频涡流感应法,接触/定距离两种测量模式2.方块电阻量程,分多配置版本:极低...

    2026-08-26查看详情
  • 日本 nitto kagaku 日陶科学 ALM‑150 粉体前处理乳钵研磨机 适用场景

    ALM‑150属于实验室一轴式自动乳钵研磨设备,模拟手工研钵擂磨动作,乳钵与乳棒分别由独立电机驱动反向转动,完成样品的粉碎、研磨、混练,支持干式、湿式两种处理方式。整机由上部乳棒驱动电机、下部乳钵驱动电机、升降调节机构、乳钵乳棒组件、样品刮料刮刀、机身底座组成。乳钵内壁磨损、粉体物料粘附结块、研磨压力过大,会造成研磨效果变差;乳钵与乳棒材质选择不当,会引入杂质干扰样品检测。设备放置需要保持台面水平,远离振动源,运行时不要将手伸入研磨区域。核心参数1.供电电源:AC100V50...

    2026-08-26查看详情
  • 日本 might MS‑4200 大功率电解研磨机 维护规范

    MS‑4200属于手提式大功率电解研磨抛光设备,依靠电解电化学作用完成工件表面处理,最大输出电流90A,支持双人同步作业,可切换刷毛、抹布两种作业模式。整机包含主机电源单元、输出电极组件、接地夹、操作手柄,适配多款专用电解液。电极结垢、接线端子氧化、电解液飞溅侵入机身内部,会造成输出下降、保护电路频繁触发。作业区域做好通风,电解液具备腐蚀性,避免接触皮肤,设备摆放远离水源与腐蚀性蒸汽。适用场景1.不锈钢构件加工:清除不锈钢焊缝焊斑、焊接氧化皮,钣金、压力容器、管道接头部位的焊...

    2026-08-26查看详情
  • 日本精密科学 NS NRX04 微量无脉动单柱塞泵 工作原理

    NRX04是台式单柱塞无脉流送液设备,依靠单柱塞搭配内置流量补偿机构,抑制吸排液行程带来的流量波动,用于化学实验微量试剂输送、流动注射、小型液相前处理、微反应装置进料。整机由伺服驱动单元、陶瓷柱塞泵头、宝石单向阀组、流量补偿机构、LED显示面板、外部信号接口组成。柱塞密封件老化、单向阀混入杂质、管路进气,都会造成流量不稳、脉动变大。设备摆放避开震动,输送易挥发溶剂时做好管路密封,防止液体汽化产生气泡干扰送液。核心参数流量范围:细分多档子型号,基础档0.001‑1.0ml/mi...

    2026-08-26查看详情
  • 日本 trinity‑lab TL204Tt 回转式摩擦损耗试验机 使用步骤

    TL204Tt为台式回转式摩擦磨损试验设备,采用试样盘回转、对偶摩擦头固定的结构形式,模拟回转部件持续滑动摩擦工况,用来测试金属、塑料、橡胶、涂层、复合材料的摩擦系数与磨损损耗。整机包含伺服回转驱动单元、加载机构、摩擦力传感模块、试样回转盘、可更换对偶摩擦头、安全防护外罩、触控控制单元。磨屑堆积、摩擦头磨损、传感器零点偏移、夹具松动,均会造成测试数据出现偏差。设备摆放位置需要保持台面水平,远离振动源,环境避免结露。使用步骤试验前准备1.确认设备供电正常,检查急停按钮、防护外罩...

    2026-08-26查看详情
  • 日本 lightest LCK‑100R 工件划痕缺陷检测照明灯 工作原理和用途

    LCK‑100R属于高亮度专用目视缺陷检查灯,多用于精密零部件、光学板材的外观目检。整套设备由HID光源头、热线切割光学镜头、电源控制单元、可弯折柔性支架、散热风扇组件组成。灯泡老化、镜头表面沾染灰尘油污,会造成照度下降、缺陷辨识度变差。检测工位要减少环境杂光干扰,外部强光会降低缺陷识别效果,镜头表面禁止硬物刮擦。工作原理1.光谱发光原理设备采用专用HID高强度气体放电光源,输出以555nm附近为主的黄绿色可见光,该波段是人眼感光的区间。相比普通白光,该光谱可以弱化漫反射杂散...

    2026-08-25查看详情
  • 日本 shoei koki eNM3A10 微小球反弹硬度试验机 设计规格

    eNM3A10属于便携式微球反弹硬度检测设备,依靠微小氧化铝球冲击试样,计算反弹系数判定材料硬度。区别传统里氏硬度计,冲击球体质量很小,质量效应影响低,小试样、薄壁件、小型零件也可以直接检测,成品表面留下压痕非常浅,可做成品无损抽检。整套设备分为冲击探测探头、外置数显控制器、信号连接线三部分,探头内部弹簧疲劳、光电窗口沾污、球体磨损,都会造成检测数据偏移。仪器可手持操作,支持向下、水平、向上多方向测量,测试环境控制在10‑35℃,环境不可结露。设计规格1.冲击探头外形:直径4...

    2026-08-25查看详情
  • 日本 lightest KNL‑35D / KNL‑55D 干扰条纹检查灯 产品特点与型号对比

    KNL‑35D、KNL‑55D属于桌面式钠光干涉条纹检查照明设备,依靠单色钠光源,让工件表面的牛顿干涉条纹肉眼直接显现,多用于液晶面板、偏光片、光学薄膜、滤光片的外观检测,用来识别平面翘曲、间隙偏差、表面凹凸、气泡、灰尘、指纹等缺陷。整套设备由钠光发光面板、角度可调支架、金属载物平台、电子镇流器、调光模块组成。灯管老化、反光面板积灰、工作台面有划痕污渍,都会造成条纹观察清晰度下降。设备摆放位置需要避开强光直射,外部杂光会干扰干涉条纹辨识。共同核心特点1.采用钠灯单色光源,输出...

    2026-08-25查看详情
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