日本 NPI PS‑LED‑IRB 多波长近红外 LED 照射单元核心特点

更新时间：2026-08-27

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PS‑LED‑IRB 为工业三通道近红外 LED 照射光源，由控制电源单元与细长型 LED 照射头部组成，可多波长同步或者独立输出近红外光，搭配相机、显微镜完成材料透射式内部无损检测。整机采用恒流 PWM 调光，自然冷却结构，可对接外部模拟信号实现设备联动。LED 元件老化、镜头表面积尘、工作环境温度过高，会造成光照强度出现偏移。设备适合安装在检测设备内部，需要避开粉尘、冷凝水汽环境。

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核心特点

1. 三通道独立光源输出，3 组近红外波长可以单独开启、关闭，既可单波长照射，也支持多波长同时叠加照射，不用更换光源硬件就可以切换光谱条件，减少检测工位换件耗时。

2. 每个通道均可独立调光，机身旋钮手动调节，也支持 0‑5V 外部模拟信号控制亮度，方便接入自动化产线系统，与相机、PLC 实现同步触发调光。

3. 照射头部体积小巧，直径仅 25mm，可安装在显微镜腔体、狭小检测工装内部；控制器体积紧凑，适合桌面实验设备以及自动化设备内置集成，整机重量轻，安装布局灵活。

4. 自然冷却散热，工作过程无风扇运转噪音，不会带来气流振动，不会干扰精密成像；光源头部内置过温保护，长时间连续工作出现温升会触发保护，降低器件损坏概率，可支持车间长时间连续作业。

5. 相比传统卤素红外光源，发热量更低，对待测样品热影响小，不容易出现试样受热变形；LED 设计使用寿命较长，日常维护工作量少，不需要频繁更换灯泡配件。

6. 光谱集中在近红外波段，针对硅、树脂、硅胶等材料具备良好穿透能力，依靠不同波长穿透差异，区分内部缺陷、异物、夹层结构，提升缺陷识别能力。

使用场景

半导体晶圆检测：硅片透射检测，识别晶圆内部空洞、裂纹、杂质夹杂，对晶片内部图案做可视化观察，用于来料检验和研发试样筛查。
光伏电池片检测：太阳能电池片隐裂、内部孔洞、脱层缺陷检查，搭配红外相机完成 EL 相关辅助成像，甄别电池片内部不良。
高分子材料质检：树脂、硅胶、橡胶、复合薄膜的内部异物、气泡、分层伤痕检测，可见光无法看穿的内部结构，依靠近红外透射成像完成非破坏检查。
显微镜配套观测：作为显微镜外置近红外光源，用于材料、电子元器件内部显微观察，完成多光谱对比试验。
实验室材料研发：开展材料近红外光学特性评估，对比不同波长下样品透射、吸收表现，完成配方试样比对测试。
自动化机器视觉工位：集成到在线检测工装，针对透明、半透明工件做内部缺陷高通量筛查，实现多光谱图像同步采集。

使用局限：无法用于不透过近红外光的金属基材检测；光源头部镜头需要定期清理灰尘，积灰会降低光照输出强度。

日本 NPI PS‑LED‑IRB 多波长近红外 LED 照射单元 核心特点

核心特点

使用场景

日本 NPI PS‑LED‑IRB 多波长近红外 LED 照射单元核心特点